Rohde & Schwarz organise les 2 et 3 avril 2025 une nouvelle édition des Oscilloscope Days.

Son objectif : fournir des informations essentielles aux ingénieurs concepteurs pour les aider à relever les défis quotidiens en matière de test. L'événement virtuel, qui se déroule sur deux demi-journées, propose des sessions théoriques et pratiques en ligne, des présentations axées sur les applications et des discussions interactives avec des experts de Rohde & Schwarz et les partenaires de l'événement tels que Würth Elektronik et PE Systems.

La première journée débutera par un discours d'ouverture qui soulignera la nécessaire interaction entre les technologies semi-conducteurs. Elle se poursuivra par une session présentant comment choisir l’oscilloscope et la sonde les plus appropriés pour une application spécifique. Rohde & Schwarz présentera également les principes fondamentaux des sondes.

Les participants à l’événement pourront ensuite assister aux sessions des spécialistes de Würth Elektronik et de Rohde & Schwarz qui s’intéresseront à des questions telles que la manière de traiter les pertes de courant alternatif et de surmonter les défis relatifs aux tests de semi-conducteurs à large bande interdite (WBG), tels que le carbure de silicium (SiC) et le nitrure de gallium (GaN).

La deuxième journée de l’édition 2025 des Oscilloscope Days débutera par une session relative à la saturation des inducteurs de puissance et à l'utilisation des diverses fonctions proposées par l'oscilloscope de la gamme MXO de Rohde & Schwarz. Les présentateurs des sociétés Würth Elektronik et PE-Systems s’intéresseront à l’impact des variations de températures ainsi que celui de la constitution du noyau et de son matériau.

Plus tard dans la matinée, des démonstrations, présentées en direct, porteront sur l'analyse de l'intégrité du signal des signaux NRZ (Non-Return-to-Zero) et PAM (Pulse Amplitude Modulation) dans les systèmes numériques à grande vitesse.

La dernière session abordera dans le détail les méthodes de débogage des interférences électromagnétiques (EMI) et de mesures de pré-conformité CEM, ainsi que les processus de test qui ne doivent plus être chronophages et coûteux à mettre en œuvre.