Cet analyseur de fluorescence X (XRF) est destiné à l’automatisation de l’analyse de matériaux et l’identification d’alliages sur une ligne de production.

L’entité Industrial Solutions (IMS) du japonais Olympus, spécialisée dans les solutions d'inspection, d'analyse et d'imagerie, vient d’ajouter à son offre d’analyseur à fluorescence X (XRF) le modèle Vanta iX.

Il permet l’automatisation de l’analyse de matériaux et l’identification d’alliages sur une ligne de production, assurant ainsi une inspection à 100 % et une surveillance des procédés en temps réel. Les applications visées sont la métallurgie, la sidérurgie et l’exploitation minière.

Avec une source à rayons X avec anode en rhodium ou en tungstène – une énergie de 8 à 40 keV (version CW) ou 8 à 50 keV (version MR) – et un détecteur SDD (Silicon Drift Detector), le Vanta iX peut tester une large gamme de nuances d'alliages et de métaux, y compris les éléments légers : du titane à l’uranium (version CW) et du manganèse à l’uranium (version MR).

S’il partage des caractéristiques avec les autres modèles de la série Vanta (taux de comptage élevé, stabilité…), le nouvel analyseur se distingue par son facteur de forme : une boîte noire de dimensions de 100 × 79 × 266 mm et d’une masse de 2,4 kg, conforme aux agréments IP54, MIL-STD-810G (vibrations) et fonctionnant entre -10 et +50 °C.

Un dissipateur thermique intégré abaisse la température interne, tandis que des points de fixation du ventilateur sont disponibles si un refroidissement supplémentaire est nécessaire. L'analyseur propose également des changements de fenêtre sans outil pour une maintenance rapide.

Grâce, enfin, à des connecteur en option (Ethernet compatible PoE, USB et entrées/sorties) et l’API Vanta Connect, l’analyseur Vanta iX est facile à installer dans les environnements de fabrication, tels que de la robotique et d'autres systèmes.