Le Collège français de métrologie (CFM) vient d’ouvrir l’appel à conférences pour la 19e édition de son Congrès international de métrologie (CIM). Cet événement bisannuel se déroulera du 24 au 26 septembre 2019, à Paris Expo – Porte de Versailles. La date limite de dépôt en ligne est le 15 janvier 2019, à l’adresse Internet http://cim2019.com/appel-conference-congres-international-metrologie-2019.html.
Au travers de 200 conférences et de 6 tables rondes, le CIM 2019 présentera les bonnes pratiques industrielles, la R&D et les perspectives de la mesure dans l'industrie : les processus (incertitudes, traçabilité, optimisation des coûts, certification, conformité, risque, etc.), toutes les grandeurs physiques, les perspectives (qualification, production avancée, maintenance prédictive, fabrication additive, objets connectés industriels, efficacité énergétique, recrutement, etc.).
En plus du cycle de conférences techniques et de tables rondes, les congressistes pourront visiter l’exposition – la 1ère édition du salon Measurement World se tiendra d’ailleurs en parallèle – et participer à des visites techniques.
Le CIM accueillera près de 1 000 participants venant d’une cinquantaine de pays différents : des utilisateurs de moyens de mesure travaillant dans les industries, les laboratoires et les organismes, des responsables et dirigeants, des fournisseurs d’appareils et prestations, des chercheurs et enseignants, etc.
