Le Collège française de métrologie (CFM) vient de lancer, jusqu’au 15 décembre prochain, l’appel à conférences pour le Congrès international de métrologie (CIM) 2015. L’événement, qui est coprésidée cette année par Pierre Claudel, directeur des Essais, des étalonnages et de la certification au Centre technique des industries aérauliques et thermiques (Cetiat), et Jenny Hully, Head of Strategic Planning au National Physic Laboratory (NPL) britannique, pour une ouverture plus grande à l’international, se déroulera du 21 au 24 septembre 2015, à Paris, en même temps que le salon Enova Paris. Le Comité scientifique et technique sera, quant à lui, coprésidé par l’Instituto Português da Qualidade et le Laboratoire national de métrologie et d’essai (LNE).

Ce congrès permet aux utilisateurs et fabricants d’appareils de mesure industriels et de laboratoire, aux enseignants et chercheurs, etc., de suivre les évolutions des techniques (les exigences ISO 9001:2015, la métrologie sensorielle…), les avancées en R&D (la métrologie de demain, les nanotechnologies…) et les applications industrielles (la sécurité et la métrologie dans l’agroalimentaire, l’externalisation de la métrologie, la production et la métrologie dans l’environnement pharmaceutique et biologique…), etc.