Après les modèles portables xSort et SpectroScout, Spectro, entité de la division Materials Analysis Division du groupe américain Ametek spécialisée dans les spectromètres d’émission optique et à rayons X, vient d’étendre son offre de spectromètres ED-XRF, avec le modèle haut de gamme Xepos.

Ce nouveau spectromètre de fluorescence des rayons X par analyse dispersive en énergie (Energy Dispersive X-ray Fluorescence) affiche des niveaux « exceptionnels » en termes de performances d’analyse élémentaire, ce qui autorise des avancées de pointe dans l’analyse multiéléments en présence de concentrations fortes, moyennes et de traces.

Les améliorations au niveau de l’excitation adaptable et de la détection permettent en effet d’atteindre une sensibilité accrue d’un facteur par 10 au moins et une précision jusqu’à 3 fois meilleure, par exemple, ainsi que la possibilité de réaliser une analyse en quelques minutes seulement. Et le spectromètre Xepos se distingue enfin par un coût moindre à celui d’un modèle à spectrométrie de fluorescence des rayons X par dispersion en longueur d’onde (Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence ou WD-XRF).