Nanolane, filiale du groupe français éolane spécialisée dans l'instrumentation optique à l'échelle nanométrique, vient d’annoncer le lancement début 2016 du N-Lab. Il s’agit du premier instrument analytique du marché qui assure l’étude d’interactions surfaciques, l’imagerie et l’analyse topographique, sans marquage, à l’échelle nanométrique. « Les laboratoires de recherche utilisent la microscopie à balayage (MEB), la microscopie à force atomique (AFM) ou la fluorescence, mais aucune de ces techniques n'est vraiment entièrement satisfaisante », a expliqué Nicolas Médard, responsable opérationnel de Nanolane à notre confrère Ouest-France.

La méthode développée par la société en partenariat avec cinq industriels et quatre centres de recherche met en œuvre une nouvelle génération de lames de verre sur lesquelles sont déposés les échantillons (capteurs optiques SEEC propriétaires). « Le support optique amplifie les contrastes pour mieux analyser tout ce qui est de dimension de l'atome », a poursuivi Nicolas Médard.

Voici quelques performances annoncées : une sensibilité en masse de 1 ng.cm2, une étendue de mesure de 0,1 à 200 nm en Z, une précision en Z de 0,1 nm ou 0,3 nm avec un liquide - le milieu d’analyse peut être aussi bien de l’air, un liquide qu’un gaz… Si les sciences de la vie (biologie, pharmaceutique, médecine, etc.) sont les applications premières du N-Lab, ce dernier peut également être utilisé pour la caractérisation des matériaux (couches minces, revêtement, nano-objets…).