L’américain Tektronix, le leader mondial en oscilloscopie et l’un des principaux fabricants en instrumentation électronique, a annoncé l’analyseur paramétrique Keithley 4200A-SCS. Destiné aux domaines des semi-conducteurs, des matériaux et des process, ce nouveau système réduit la complexité de la caractérisation pour les non-spécialistes et, in fine, accélère les analyses.

« Si l’analyse paramétrique est essentielle pour caractériser les nouveaux composants et matériaux, les chercheurs peuvent n'avoir besoin d'effectuer ces tests que de manière non régulière, ce qui fait qu'ils maîtrisent parfois mal l'utilisation des testeurs », constate Mike Flaherty, directeur général de  la gamme de produits Keithley chez Tektronix.

Fort de ce constat, la société a modernisé le design du système 4200-SCS existant, avec une nouvelle interface utilisateur – « c’est l’analyseur paramétrique doté du plus grand écran du marché (écran LCD 15,6 pouces tactile 1 920 x1 080 pixels) », affirme la société - et une gamme d'outils tels que des vidéos pédagogiques d'experts intégrées dans l'instrument. « En plus d’un fonctionnement nettement plus facile et plus intuitif, le 4200A-SCS permet de réduire le temps de configuration de l’instrument de l’ordre de 50 % », poursuite la société.

Pour répondre aux contraintes liées à la diversité des mesures, Tektronix a par ailleurs développée le module de commutation à quatre voies I-V/C-V Keithley 4200A-CVIV. Associé au châssis du modèle 4200A-SCS, il permet de passer automatiquement des mesures I-V effectuées avec des cartes SMU aux mesures C-V réalisées avec une carte CVU, sans déconnexion de câbles.