Geotest propose une carte au format PXI doté de deux voies de génération de signaux arbitraires numérisés sur 16 bits à la vitesse de 250 Méch./s.
La résolution des convertisseurs analogiques/numériques et leur cadence d’échantillonnage sont deux importants paramètres à prendre en compte lors du choix d’une carte d’acquisition de signaux. Pour un générateur arbitraire, ces deux caractéristiques sont tout aussi essentielles, puisque ce type d’instrument exploite un mécanisme similaire mais opérant en sens inverse. On commence par créer la forme d’onde que l’on souhaite générer. Ensuite, les valeurs numériques de cette forme d’onde sont enregistrées en mémoire. Le convertisseur numérique/analogique transforme ensuite, à la fréquence d’échantillonnage appropriée, les données numériques en un signal analogique. Plus la fréquence d’échantillonnage est élevée plus la numérisation du signal se rapprochera de la forme d’onde souhaitée. Concernant la résolution, un signal codé sur 8 bits pourra prendre 256 valeurs différentes, 4096 sur 12 bits et 65536 valeurs sur 16 bits. La carte GX1120 de Geotest gagne en performance sur ces deux points. Elle est dotée de convertisseurs de 16 bits contre 12 bits pour son aînée (GX1110) et sa cadence de numérisation atteint 250 Méch./s soit plus du double que la carte GX1110. Et davantage encore en mode multiplexage. Car bien qu’elle s’intègre aussi dans un carte PXI au format 3U occupant un seul emplacement le module GX1120 est pourvu de deux voix de génération (contre une pour le GX1110) de signaux synchronisés et en phase. Ainsi, en combinant les deux étages de numérisation et en n’exploitant qu’un des deux canaux il est possible d’atteindre une fréquence d’échantillonnage de 400 Méch./s pour une capacité mémoire de 32 Méch. Comme son homologue une voie, cette carte propose deux modes de génération : la technologie traditionnelle dite DDS (Direct Digital Synthesis pour synthèse numérique directe) ou celle dite AWG (Arbitrary Waveform Generator). Le premier autorise notamment la génération de signaux jusqu’à 100 MHz (sinus), 20 MHz (rampe et triangle) et 1000 MHz (carré). « L’utilisateur a cependant le choix de configurer une voie en mode DDS et l’autre en mode AWG », précise Victor Fernandes, responsable européen des ventes.
Pour les applications exploitant des signaux moins rapides mais exigeant un plus grand nombre de canaux, Geotest lance également la carte GX1649 dotés de 64 sorties analogiques indépendantes (configurable par groupe de 16 voies) délivrant une tension continue ou un signal arbitraire. Elle affiche une résolution de 16 bits et une fréquence d’échantillonnage de 625 kHz par canal. « Sa gamme de tension de sortie, qui s’étale de -15 V à +15 V, la distingue des autres modules PXI marché qui s’étend en général de -8 V à +8 V », souligne Victor Fernandes.
Youssef Belgnaoui
