Les générateurs et analyseurs de signaux vectoriels de la série S d’Aeroflex se distinguent des appareils traditionnels en deux points : ils se pilotent uniquement par écran tactile et sont basés sur les solutions PXI du constructeur.
Depuis quelques années, l’instrumentation PXI s’est invitée dans le domaine du test radiofréquences. Aeroflex a été l’une des premières entreprises à croire au PXI en lançant, dès 2003, une gamme de modules autorisant la réalisation de test RF jusqu’à 3 GHz. National Instruments, le concepteur du PXI, l’avait précédé d’un an en lançant des solutions de test RF jusqu’à 2,7 GHz. Mais le lancement d’Aeroflex était d’autant plus remarquable qu’il émanait d’une société spécialisée dans l’instrumentation RF traditionnelle. Ce qui crédibilisait définitivement l’alliance PXI-RF. Ce crédit a été considérablement renforcé fin septembre 2010, par l’annonce du lancement par Agilent Technologies de près de 50 références au format PXI parmi lesquelles figure une solution d’analyse de signaux vectoriels jusqu’à 26,5 GHz.
Mais l’offre PXI d’Aeroflex se démarque singulièrement de celle de National Instruments, Agilent ou encore Ztec.
Architectures PXI et écran tactile
En effet, outre des modules PXI classiques qu’il faut assembler dans un châssis pour concevoir son banc de test, le constructeur américain a lancé l’an dernier une gamme de générateurs de signaux analogiques SGA d’un nouveau genre, qu’il complète aujourd’hui par les générateurs de signaux numériques SGD et les analyseurs de signaux vectoriels SVA. A première vue, ces instruments se distinguent des instruments traditionnels par leur face avant. Les boutons poussoirs et rotatifs sont remplacés par un écran couleur tactile de 8,5 pouces. « Tous les réglages s’effectuent intuitivement, comme cela se fait aujourd’hui couramment sur les smartphones et autres tablettes », indique Dominique Goblet, directeur commercial chez Aeroflex. L’autre particularité de ces instruments est qu’ils sont constitués d’un châssis et de modules PXI. Mais ce choix technologique du constructeur est transparent pour l’utilisateur qui ne peut pas non plus y ajouter d’autres modules PXI. Ce sont des appareils clés en main, prêts à être utilisés sans programmation ou configuration préalable. « Le choix du PXI nous permet surtout de proposer des instruments présentant des spécifications assez bonnes pour être employés en R&D et à un prix assez bas pour être utilisés en production », explique Dominique Goblet. Le prix des modèles SGD démarre à 13 k€ et celui des SVA à 16 k€. Leur emploi en production sera facilité par leur format de 4U sur ½ rack. Le générateur et l’analyseur peuvent facilement cohabiter côte à côte dans un rack 19 pouces où ils sont couplés mécaniquement et synchronisés. Ils peuvent être également associés au module d’aiguillage des signaux “SCO Combiner” du constructeur.
Côté spécifications, la gamme de générateurs de signaux numériques SGD comprend deux appareils couvrant les bandes de fréquences de 100 kHz à 3 et 6 GHz. Les modèles SGD-3 et SGD-6 offrent tous deux un niveau de sortie de +13 dBm avec une option à +20 dBm. Ils incluent un modulateur IQ de 300 MHz de bande RF appropriée à la génération de signaux modulés large bande. Un générateur de formes d’onde arbitraire 2 voies opérant jusqu’à 250 Méch./s avec des options de profondeur mémoire jusqu’à 4 Go. Le logiciel de création de forme d’onde intégré IQCreator autorise la génération de fichiers de modulation à partir de modèles prédéfinis. Les modèles SGD présentent un bruit de phase typique de -135 dBc/Hz à 20 kHz d’une porteuse de 1 GHz et un temps de commutation de fréquence inférieur à 100 µs. La dynamique du modulateur IQ assure au moins -71 dBc de puissance dans le canal adjacent pour un signal WCDMA.
Un éventail d’options
La gamme SVA est composée de deux références couvrant une bande de fréquences de 250 kHz à 6 et 13 GHz. Leur bande instantanée d’analyse de signaux atteint 90 MHz. Leur niveau d’entrée est de +30 dBm et leur niveau de bruit moyen de -148 dBm/Hz. Leur plancher de bruit à 10 MHz d’une porteuse de 2 GHz de -138 dBc/Hz et leur bruit de phase à 20 kHz d’une porteuse de 2 GHz est de -116 dBc/Hz. Ils affichent une vitesse de commutation de fréquence de 250 µs jusqu’à 6 GHz. Ces analyseurs proposent un éventail d’options pour le test de systèmes de communications, notamment pour la plupart des standards 2G, 3G, 4G, WLAN, WMAN, WPAN et LTE. Ces options assurent la caractérisation de la puissance, de la qualité de modulation et du spectre de terminaux mobiles selon les normes
en vigueur.
Youssef Belgnaoui