La démarche vise à combiner la plate-forme d’analyse NI Global Operations avec le contrôle en temps réel de systèmes ATE de divers fournisseurs.
Face à des exigences croissantes en matière de qualité, de rendement et de fonctionnalités des opérations de test des semi-conducteurs, NI (ex-National Instruments) a lancé une nouvelle initiative pour fournir des solutions d’analyse de données en temps réel à la périphérie des réseaux, en utilisant sa plate-forme Global Operations (GO, anciennement Optimal+).
Une couche d’activation (Real Time Enablement Layer) a ainsi été ajoutée à l’écosystème NI GO, ouvrant la voie au développement d’applications personnalisées par les utilisateurs de la plate-forme, par NI et par des tiers. Ce nouveau niveau d’infrastructure et de contrôle étend les capacités existantes de GO aux serveurs de tests sécurisés à faible latence, permettant aux modèles d'analyse de s'exécuter en même temps que les tests.
« Nos clients doivent pouvoir prendre des décisions de test plus rapidement, c’est à dire lors du test lui-même », explique Rudy Sengupta, responsable Test and Analytics Software chez NI.
La nouvelle couche renforce l’architecture ouverte et les capacités d’analyse de NI GO avec le support intégré des plates-formes ATE (équipement de test automatisé) de différents fournisseurs. Leurs données locales, la sécurité et les protocoles de communication, combinés aux fonctions d’analyse d’arrière plan de GO, créent une solution complète et fiable pour le contrôle en temps réel des tests de semi-conducteurs.
Le fournisseur de systèmes ATE Teradyne est le premier à intégrer les nouvelles capacités. Sa solution Archimedes repose sur des technologies d’analyse, d’intelligence artificielle et de machine learning pour la prise en charge de flux de données temps réel sécurisés, avec un impact presque nul sur le temps de test.
Des collaborations avec d’autres fournisseurs et plates-formes sont prévues. « Nous voyons notre nouvelle couche Real-Time Enablement et nos partenariats ATE comme un point d’inflexion critique dans la valeur que nous pouvons retirer de l’analyse des données de test », conclut M. Sengupta.
