Le pôle de compétitivité Minalogic, dédié aux micro et nanotechnologies ainsi qu’au logiciel embarqué, annonce la finalisation du projet Delpix. Celui-ci aboutit à la mise au point d’un système complet de tomographie rapide à rayons X pour le contrôle qualité industriel. Grâce au projet Delpix, les limites qui restreignaient l’utilisation de la technologie sur les lignes de production industrielles ont été levées : le contrôle d’une pièce ne prend désormais que quelques secondes, et aboutit à une détection des défauts automatique, en temps réel.
La mise en place de cette plate-forme, unique en France, a conduit au développement d’une nouvelle génération de détecteurs plans offrant une robustesse accrue pour un coût réduit, ainsi qu’à de nouveaux logiciels de reconstruction d’images volumiques synchronisées, avec un important gain de vitesse. Enfin, le projet a également permis d’approfondir le traitement automatisé des données volumiques synchronisées pour détecter les défauts, et d’accéder aux mesures dimensionnelles dans les structures internes des pièces analysées.
Pour rappel, le projet Delpix s’est étendu sur une durée de trois ans et a nécessité un budget total de 8,5 millions d’euros. Plusieurs acteurs de la recherche et de l’industrie (grandes entreprises ou PME) y ont participé. Parmi eux, citons Thalès, Trixell, CyXplus, Digisens, ou encore Noesis.
- 29 février 2012 -