Pour des raisons d’accessibilité, les cartes électroniques à très haute densité sont devenues difficiles à tester avec les techniques de test in-situ classiques. Les testeurs d’inspection optique (AOI) sont arrivés à la rescousse et permettent de mettre en évidence certains défauts de fabrication. Mais ils ont la réputation de générer un taux souvent élevé de faux défauts. Avec sa technique SSM de visualisation 3D des contours, Agilent Technologies affine la qualité des contrôles…