Marie-Christine Lépy, directrice de recherche au CEA, et Gaël Obein (à droite), maître de conférences au Cnam, ont reçu le prix LNE de la recherche 2019 des mains de Thomas Grenon, directeur général du LNE.

C omme chaque année depuis maintenant 11 ans, le Laboratoire national de métrologie et d'essais (LNE) a remis le prix LNE de la recherche 2019, lors d'une cérémonie organisée dans ses bureaux parisiens. « Le prix LNE de la recherche distingue des chercheurs contribuant à la réussite et à la réputation scientifique du Réseau national de la métrologie française, que le LNE pilote, et de sa propre activité de recherche », rappelle Thomas Grenon, directeur général du LNE.

Ce sont ainsi Marie-Christine Lépy, directrice de recherche au Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), et Gaël Obein, maître de conférences au Conservatoire national des arts et métiers (Cnam), qui ont été récompensés pour leurs travaux respectifs sur les rayonnements ionisants et sur les rayonnements optiques, en présence de responsables du LNE, de leurs collègues de travail et de leurs familles.

Marie-Christine Lépy est responsable de la spectrométrie gamma et rayons X au sein du Laboratoire national Henri Becquerel (LNHB). Ses compétences en métrologie des radionucléides, qui couvrent la mesure par spectrométrie gamma et X, le développement de la spectrométrie X et de l'utilisation de sources monochromatiques accordables, ainsi que l'utilisation du rayonnement sur ligne du synchrotron Soleil, sont issues d'une expérience qui a débuté en 1982. C'est à cette date-là qu'elle soutient sa thèse à l'université de Caen et devient docteure en physique nucléaire.

Président de la CIE-France

En décembre 1984, Marie-Christine Lépy entre au LNE-LNHB/CEA dans le groupe de spectrométrie gamma. L'année suivante, elle coordonne le groupe de travail sur la spectrométrie gamma de l'International Committee for Radionuclide Metrology (ICRM) et, en 1986, elle devient membre du comité consultatif de la conférence européenne sur la spectrométrie X (EXRS). Trois années passent avant qu'elle ne soit nommée « Expert senior » au CEA. Gaël Obein, lui, est maître de conférences au Conservatoire national des arts et métiers (Cnam). C'est en 2003 qu'il soutient sa thèse intitulée « Caractérisation optique et visuelle du brillant », réalisée au Muséum national d'histoire naturelle (MNHN), et devient docteur en Système physiques et métrologie. Après un postdoctorat au National Institute of Standards and Technology (NIST) dans la division Optical Thermometry and Spectral Methods, Gaël Obein entre au Cnam en 2006, où il met en place et développe la métrologie de l'apparence au sein du Laboratoire commun de métrologie LNE-Cnam (LCM).

Depuis 2012, il anime la métrologie européenne sur cette thématique par le biais des trois Joint Research Project (JRP) qu'il coordonne, à savoir BiRD (Bidirectional Reflectance Definitions), BxDiff (New Quantities for the Measurement of Appearance) et xDReflect (Multidimensional Reflectometry for Industry). Gaël Obein est en charge de la réalisation et du maintien à niveau des références nationales de photométrie et de spectrophotométrie du LCM depuis 2008.

Il est également président de la CIE-France, le Comité national français miroir de la Commission internationale de l'éclairage (CIE), depuis 2017. Il est responsable du département Photonique au LCM depuis 2018, et dirige aujourd'hui deux comités techniques à la CIE, l'un sur la mesure bidirectionnelle de la réflectance, l'autre sur la mesure du brillant.