D epuis sa création en 1998, le français Delta Mu a toujours promu une métrologie autrement. Après la désacralisation de la périodicité d'étalonnage qui a amené à la sortie du fascicule FD X 07-014 en 2006, puis le déploiement de stratégies de surveillance des processus de mesure avec le Collège français de métrologie (CFM), la société organise le 9 juin prochain, àClermont-Ferrand (Puy-de-Dôme), une journée technique sur la Smart Metrology ( voir Mesures n° 876 ). Cet événement s'articule autour du livre intitulé « La Smart Metrology : de la métrologie des instruments à la métrologie des décisions », écrit par Laurent Leblond, statisticien chez PSA Peugeot Citroën, et Jean-Michel Pou, fondateur et président de Delta Mu, et publié par l'Association française de normalisation (Afnor). Comme les auteurs l'expliquent dans l'avant-propos, bien que la métrologie fasse l'objet de beaucoup de discussions, essentiellement dans le cadre des systèmes qualité des entreprises, il semble qu'elle n'ait pas encore trouvé sa véritable place dans les organisations industrielles.

Cet ouvrage a ainsi pour ambition de partager, avec la communauté des métrologues actifs ou en devenir, et plus généralement avec toutes les personnes concernées par les mesures, une vision de cette discipline à la hauteur des enjeux d'un avenir encore à inventer, dans le cadre d'une approche rénovée de la mesure.

Après une présentation du livre et une deuxième présentation sur la Smart Metrology et l'ISO 9000 v2015 le matin, l'après-midi sera consacré à deux tables rondes et une présentation sur le projet Services and Tools for Advanced Metrology (STAM).

Deux tables rondes l'après-midi

La première table ronde sera consacrée à « Une gestion optimisée-Entreprises et auditeurs satisfaits », avec Jean-Luc Ducray (Leroy Somer), Philippe Veisse (Forecreu) et Benoît Boudier (Laboratoire départemental d'analyses et de recherches, LDAR). Lors de la deuxième table ronde, Jean-Marc André (Pôle de compétitivité Mont-Blanc Industries), Maurice Pendola (Phimeca), Michel Roche (consultant) et Jean-Michel Pou débattront sur le thème de la métrologie et de l'efficience industrielle.

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