La 15^ème édition du Congrès international de métrologie (CIM), rendez-vous bisannuel de la communauté académique et industrielle, a une nouvelle fois accueilli un nombre de participants en hausse de 7 % par rapport à l’édition précédente en 2009, à 800 personnes au total. « C’est une édition à marquer d’une pierre blanche grâce à la réussite de la tenue conjointe avec MesurExpoVision et, toujours, à la qualité élevée des conférences techniques », avance Pierre Claudel, président du Collège français de métrologie (CFM), organisateur du congrès, et directeur de la division Métrologie du Cetiat. Pour la première fois, se déroulait en parallèle du Congrès le salon MesurExpoVision sur lequel se trouvait d’ailleurs le Village Métrologie regroupant 50 exposants. Parmi les thèmes phares abordés lors des conférences du congrès, citons les derniers développements relatifs aux unités SI, les nanosciences et nanotechnologies qui seront amenés à prendre une part croissante dans les présentations à l’avenir, le programme européen de recherche en métrologie, la nouvelle instrumentation pour augmenter la productivité des entreprises, etc. Le Prix de la meilleure conférence orale est allé à M. Saecker de Metrologie Service Basis (Allemagne) pour un pied à coulisse nouvelle génération, et le Prix de la meilleure conférence “poster” a été remis à M. Bergsten du SP Technical Research Institute (Suède) pour un sujet en électricité. « Les tables-rondes ont rencontré un succès incontestable, preuve de la place grandissante de la métrologie dans l’entreprise… même s’il y a encore des étapes à franchir », constate Antonio Mazzei, président du comité d’organisation et directeur de l’Institut méditerranéen de la qualité (IMQ).
- 25 octobre 2011 -