Bonne impression générale, premiers retours positifs… les organisateurs de la 14ème édition du Congrès international de métrologie (CIM), qui s’est déroulé du 22 au 25 juin 2009 au Palais des Congrès de la Porte Maillot, à Paris, semblent satisfaits. Dans un contexte économique difficile, la manifestation européenne biannuelle regroupant conférences techniques et exposition dédiées à la métrologie a en effet enregistré une progression de 15 %, comparé à l’édition précédente, du nombre de participants inscrits (750 personnes), auxquels se sont ajoutés 200 visiteurs pour l’exposition (65 sociétés présentes) uniquement. Le congrès a par ailleurs rassemblé une forte présence d’industriels (utilisateurs de moyens de mesure, laboratoires d’analyses et de métrologie, fabricants de matériels…), représentant 59 % des participants, ainsi que des grands organismes nationaux et internationaux (26 %), à l’instar des laboratoires nationaux, des ministères ou des organismes d’accréditation, et des universitaires et des chercheurs (10 %).
(septembre 2009)