Ce système issu du domaine de la microscopie 3D à rayons X entend établir une nouvelle norme en matière de performance, de choix et d'accessibilité.

Le Zeiss VersaXRM 730® offre une résolution très poussée, un débit plus rapide et une réduction du délai d'obtention des résultats, accélérant ainsi la productivité dans divers environnements de recherche. Le logiciel de guidage et de contrôle intuitif du système, le ZEN navx, améliore l'accessibilité et s'adresse aux utilisateurs de tous niveaux d'expérience. Le mode FAST facilite les tomographies en une minute, accélérant ainsi l'imagerie 3D en utilisant la collecte continue de données sur le mouvement de l'échantillon.

« Doté de technologies innovantes et brevetées intégrées dans un environnement logiciel primé, le Zeiss VersaXRM 730 offre des performances exceptionnelles, une vitesse de traitement accrue et un délai d'obtention des résultats qui représentent une avancée spectaculaire dans le domaine de la microscopie 3D à rayons X, avec de vastes applications bénéficiant à la recherche et au contrôle qualité dans les domaines de l'automobile, de l'électronique, de l'aérospatiale, des dispositifs médicaux, de la fabrication additive et de nombreuses autres industries, a déclaré Daniel Sims, responsable de l'unité commerciale Solutions de microscopie industrielle chez Zeiss. Nous avons capitalisé sur la plate-forme XRM la plus éprouvée et la plus polyvalente, représentant notre engagement envers l'excellence et faisant une fois de plus progresser le domaine de la microscopie 3D à rayons X. »