Les partenaires proposent un flux de migration des designs de puces RF de la technologie N16 vers la nouvelle N6RF+.
Le fournisseur américain de solutions de test Keysight Technologies a collaboré avec ses compatriotes Synopsys, spécialiste de l’automatisation de la conception électronique, et Ansys, éditeur de logiciels de simulation, dans le but de fournir un flux de migration de conception de circuits de radiofréquence (RF), passant du processus N16 à la nouvelle technologie N6RF+ du fabricant taïwanais de semi-conducteurs TSMC.
« Répondre aux exigences de puissance, de performance et de surface (PPA) tout en respectant les nouvelles règles de conception de process est l’un des problèmes majeurs que rencontrent les designs de puces RF complexes. Les concepteurs de circuits RF veulent exploiter et réutiliser leurs bibliothèques de propriétés intellectuelles de composants et d’appareils N16, afin d’améliorer le retour sur investissement» détaille Niels Faché, directeur général de Keysight EDA. Et d’ajouter « Le nouveau flux facilite le reconception rapide dans la dernière technologie N6RF+ pour les composants existants et construits à l’origine en N16 ».
Les principaux éléments du flux comprennent d’une part la famille Custom Design de Synopsys, basée sur l’environnement de layout Custom Compiler avec ASO.ai – pour une migration rapide des designs analogiques et RF – et le simulateur PrimeSim. D’autre part, la solution RFPro de Keysight concerne le paramètrage des appareils, l’ajustement automatisé des valeurs et la simulation électromagnétique. Ansys intervient avec RaptorH pour l’analyse de l’électromigration sur silicium et VeloceRF pour la synthèse des composants passifs.
En substance, RFPro permet de paramétrer les dispositifs passifs, y compris les inductances, et de recréer automatiquement des modèles de simulation précis avec une disposition adaptée au nouveau processus. Les concepteurs peuvent visualiser l’agencement recréé dans Custom Compiler avec les inductances synthétisées de VeloceRF, puis effectuer une analyse électromagnétique interactive dans les puces sans fil complexes.
