La solution R&S RTS teste les performances du capteur radar monopuce de NXP gravé en 28 nm, avec des distances d’objet très courtes.

Partenaire de NXP Semiconductors depuis de nombreuses années, le fournisseur d’instruments de test et mesure Rohde & Schwarz vient de valider la conception de référence du capteur de radar SAF 85xx de NXP, intégré à un système sur puce (SoC) RF Cmos gravé en 28 nm, ce qui constitue, d’après les collaborateurs, une première de l’industrie pour les applications radars.

Cette nouvelle génération de capteurs monopuces peut être utilisée pour des radars à courte, moyenne et longue portée, répondant aux exigences de sécurité spécifiées par le programme NCAP (New Car Assessment Program) ainsi qu’aux fonctions de conduite automatique sur autoroute ou en zone urbaine requises par le secteur en forte croissance des véhicules L2+ et L3.

Le test des performances du nouveau SoC repose sur le système de test radar de la gamme R&S RTS, qui effectue la caractérisation complète des capteurs et se distingue notamment par la génération d’échos radar avec des distances d’objets extrêmement courtes, allant jusqu’à la valeur de l’entrefer du radar testé, selon l’annonce du fabricant allemand.

Concrètement, le système R&S RTS associe le générateur d’écho radar automobile R&S AREG800A en backend, avec le réseau d’antennes R&S QAT100 ou AREG8-81S en frontend. Cette solution est adaptée à l’ensemble du cycle de vie des radars automobiles, y compris aux exigences des laboratoires de développement, des processus de test HIL (hardware-in-the-loop) et VIL (vehicle-in-the-loop), des phases de validation et de test en production. Entièrement modulable, elle peut émuler des scénarios de circulation complexes des applications de test des systèmes avancés d’aide à la conduite (ADAS).