Le système P9002A est conçu pour effectuer des tests paramétriques de plaquettes de semi-conducteur, en assurant une cadence élevée et un coût réduit.

Keysight Technologies, fournisseur américain de solutions pour la conception et la validation de produits électroniques, lance à présent le système P9002A qui vise à effectuer des tests paramétriques en parallèle de wafers (plaquettes de matériau semi-conducteur), en alliant cadence élevée et coût réduit.

Dans un contexte de pénurie mondiale de composants électroniques conduisant à une évolution rapide de la demande, en particulier pour l’automobile, les appareils numériques et l’électroménager, le système P9002A veut accélérer le développement de technologies innovantes en termes de matériaux, de miniaturisation, de conditionnement 3D, ou adaptées aux applications 5G, de data center ou d’intelligence artificielle.

Pour remplir ces fonctions, la nouvelle solution mise sur la flexibilité en supportant des configurations de 100 canaux de test en parallèle. De plus, elle se montre entièrement compatible avec le logiciel SPECS sur la gamme de testeurs paramétriques 4080 de Keysight. Grâce à un adaptateur de carte de test, les utilisateurs peuvent ainsi reprendre leurs programmes de test existants et minimiser le coût de mise en œuvre dans le nouvel environnement de validation P9002A.