Les deux premières journées techniques (JT) du Collège français de métrologie (CFM) ont comme thèmes l’essentiel de la métrologie et la métrologie dimensionnelle.
Le Collège français de métrologie (CFM) a choisi les thèmes « L’essentiel de la métrologie » et « Métrologie dimensionnelle : du pied à coulisse à la mesure 3D » pour ses deux premières journées techniques de l’année 2021, respectivement le 21 janvier et le 10 février.
Pour les deux journées, les participants auront le choix entre une participation physique, au Novotel Gare de Lyon (Paris), et une participation en ligne, compte tenu des contraintes d’organisation liées à la pandémie du Covid-19.
Pour débuter la nouvelle année sur de bonnes bases, la journée technique organisée le 21 janvier 2021 prochain permettra à des experts (Cetiat, DeltaMu, LNE, PSA…) de présenter les bases de la métrologie – les notions à connaître, la structuration d'un processus de mesure, la gestion d'un parc d'instruments, la criticité des instruments, l’étalonnage... – et des cas pratiques et retours d'expérience.
Cette journée technique s'adresse aux métrologues, aux responsables qualité, aux responsables de bureaux d'études, aux directeurs techniques et, plus généralement, à toute personne concernée par la qualité de produits fabriqués.
Lors de la journée technique du 10 février 2021, des experts du Cetim, de l’ENSAM, de PSA, de l’Université de Bourgogne, etc. présenteront les différentes techniques de mesure dimensionnelles, de la mesure de base à la mesure complexe, pour les mesures de pièces mécaniques, en mettant l'accent sur les bonnes pratiques et la métrologie qui encadre ces pratiques.
Des industriels (Creamform [groupe Ametek], PolyWorks, Zeiss…) présenteront, eux, les solutions qu'ils mettent en œuvre selon leurs besoins dans des domaines variés comme l'automobile, la robotique, etc. A chaque type de mesure que l'on souhaite réaliser, une solution doit être adaptée pour répondre au besoin en optimisant les ressources nécessaires, le temps et les coûts associés.
