A l’occasion de la journée technique organisée le 6 février dernier sur ce thème, le Collège français de métrologie (CFM) a dévoilé l’ouvrage intitulé « Application du nouveau concept d’étalonnage du VIM 3 » et le logiciel de modélisation des résultats d’étalonnage M-Care, qui a été développé sur la base des méthodes préconisées par le guide avec le support de la Direction générale de la compétitivité, de l’industrie et des services (DGCIS). L’objectif de l’ouvrage rédigé par le groupe de travail ad hoc du CFM (Arts et Métiers Paris Tech, ASPA, CEA/CESTA, Cetiat, CT2M, Delta Mu, LNE, PSA, Trescal, Volvo Powertrain…) est d’aider les métrologues et les utilisateurs d’instruments de mesure à appréhender la nouvelle définition de l’étalonnage introduite par la troisième édition du Vocabulaire international de métrologie (VIM) et de fournir des éléments pour sa mise en œuvre au sein des laboratoires d’étalonnage.

- 20 février 2013 -