Une 3ème édition du VIM est publiée par l’ISO et s'intitule Vocabulaire International de Métrologie - Concepts fondamentaux et généraux et termes associés.
Cet ouvrage de référence est dû à la collaboration de plusieurs organisations internationales (BIPM, CEI, IFCC, ILAC, ISO, UICPA, UIPPA et OIML) et plus particulièrement au Comité commun pour les guides en métrologie (JCGM/WG 2). Il donne un ensemble de définitions et de termes associés, en anglais et en français, pour un système de concepts fondamentaux et généraux utilisés en métrologie, ainsi que des schémas conceptuels illustrant leurs relations.
Pour certaines définitions, des informations complémentaires sont apportées sous forme d'exemples et de notes.
Les concepts sont répartis en cinq chapitres et présentés dans un ordre logique dans chaque chapitre.
- Grandeurs et unités
- Mesurages
- Dispositifs de mesure
- Propriétés des dispositifs de mesure
- Etalon
Douze schémas conceptuels sont regroupés en fin d’ouvrage dans une annexe dite informative. Ils permettent notamment une représentation visuelle des relations entre les concepts définis et désignés dans les articles précédents et offrent la possibilité de vérifier si les définitions présentent des relations adéquates.

Deux versions sont proposées :
• une version électronique (JCGM 200 : 2008) sur le site Internet du BIPM (www.bipm.org) ;
• une version papier publiée par l’ISO sous le titre : “Guide ISO/CEI 99 : 2007,
Vocabulaire international de métrologie - Concepts fondamentaux et généraux et termes associés (VIM)” (voir www.iso.org).

Sur ce sujet, le Collège Français de Métrologie organise une réunion d'information le 16 octobre à Paris (Rens. www.cfmetrologie.com)