National Instruments annonce le cinquième Automated Test Summit, un événement annuel, en ligne sur Internet le 5 juin 2008. Composé de sessions techniques sur les tendances et les nouveaux défis du test automatisé, ce rendez-vous mondial est organisé de façon à être adapté aux horaires de tous les continents, et de permettre aux participants de discuter avec des experts dans différentes langues. Les participants pourront assister aux présentations stratégiques (keynotes) et aux conférences techniques, participer à des forums en direct, sous la forme de questions-réponses, et interagir avec des fournisseurs dans la zone d’exposition virtuelle.

Les représentants d’acteurs majeurs du test et de la mesure, comme Averna, Cal-Bay, Intel, Microsoft et Tektronix, partageront leurs savoir-faire techniques et leurs expériences. Mike Santori, responsable business et technologies chez NI, ouvrira la journée avec un keynote intitulé "Optimizing Efficiency".

Les sessions de conférences techniques traiteront des sujets suivants :
• réduire les coûts de développement de systèmes ;
• dernières tendances en conception de matériels ;
• étendre la durée de vie des systèmes de test ;
• table ronde sur l’ingénierie de test.

http://www.ni.com/testsummit

(mai 2008)