# Réglage du temps d'exposition permettant la mesure fiable sur les surfaces aux aspects changeants
# Mesure des objets composés de plusieurs couches transparentes via des capteurs confocaux avec option multi-peak
# Mesures sans contact, ni rétroaction via le principe de mesure confocal à codage chromatique
# Calibrage du système et ajustage avec un outil optoélectronique réalisés avant livraison
# Cible de calibrage intégrée pour un ajustement ultérieur
# Progiciel pour l'analyse, l'affichage et l'archivage des données de production surveillées
# Différents modes de mesure : mesure d'épaisseur à voie fixe dans des positions quelconques, mesure du profil d'épaisseur ou plusieurs tendances longitudinales
Micro-Epsilon France
