Après notamment Saint-Malo en 2006, Paris en 2008, Limoges en 2010, Rouen en 2012 et Clermont-Ferrand en 2014 (voir photographie), le 18e Colloque international et l’exposition sur la Compatibilité électromagnétique (CEM) se déroulera du 11 au 13 juillet 2016, à Rennes (Ille-et-Vilaine). CEM 2016 est le rendez-vous incontournable des experts académiques et des industriels de la discipline.
Les participants auront l’occasion de détecter les nouvelles tendances, de découvrir des outils matériels et logiciels et d’échanger autour de résultats scientifiques nouveaux sur un très large éventail de thèmes : la CEM des systèmes complexes, des composants, en électronique de puissance et des transports, les câblages et les lignes de transmission, les perturbations transitoires, les moyens d’essais et les techniques de mesure, les chambres réverbérantes, l’exposition aux champs électromagnétiques ainsi que les méthodes numériques.
A l'occasion de l’édition 2016, se tiendra pour la première fois une session plénière d'un nouveau genre consacrée aux grands problèmes de CEM non encore résolus. Cette session articulée autour de quatre sujets/contributions aura pour vocation d'exposer des problématiques et de créer des échanges entre experts autour de solutions envisageables. Pour plus d'informations, rendez-vous sur le site Internet http://cem2016.sciencesconf.org.
