# Inspection en 2D et 3D
# Évite la superposition des couches sur l'image
# Pas de préparation de l'échantillon
# Pas de logiciel supplémentaire : reconstruction et analyse avec phoenix|x-ray
# Compatible avec les machines microme|x et nanome|x
# Visualisation en volume avec GE 3D|viewer

GE Measurement & Control
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