Les systèmes de mesure dimensionnelle par imagerie de la série IM de Keyence ont trouvé leur place dans des applications diverses allant du contrôle par les services qualité jusqu'en bord de ligne de production. Rapides et précis, ces appareils sont également facilement utilisables puisqu'il suffit à l'opérateur de poser la pièce à contrôler sur le plateau et d’appuyer sur le bouton pour déclencher la séquence de contrôles. Jusqu’à 99 côtes peuvent ainsi être mesurées en quelques secondes avec une précision allant de ± 5µm à ±0,7µm, selon les données du fabricant.
Après s'être enrichie de diverses fonctionnalités au fil des ans, la série IM est depuis peu complétée par le modèle IM6225-T qui permet à ces appareils d'accéder à la mesure 3D puisque ce modèle est équipé d'un palpeur qui rend possible des mesures de hauteur de pièces en complément des mesures 2D. Et cela suivant un process relativement simple : une fois les mesures 2D (en X et Y) réalisées sans contact par imagerie optique, les mouvements combinés du plateau sur lequel se trouve la pièce à contrôler dans la direction X et celui du palpeur dans la direction Y et Z autorisent toutes sortes de mesures en Z sur une plage de 60 mm : hauteur de pièce, profondeur de perçage/lamage, etc.
"La pièce à contrôler est repérée automatiquement par la caméra de l'IM qui pilote alors les déplacements pour assurer le palpage des points désignés par le programme. La programmation des séquences de mesure en Z s'effectue simplement de manière graphique comme c'est déjà le cas pour les mesures 2D. Un outil spécifique a été intégré au logiciel de programmation pour désigner les points de palpage en hauteur de la pièce à contrôler", explique-t-on chez Keyence.
En pratique, les mesures en Z sont réalisées automatiquement à l'aide d'un stylet interchangeable (différentes extrémités possibles) monté sur une embase magnétique. Deux positions de stylets sont proposées en fonction de la zone de mesure à couvrir. La précision de mesure est de ± 15µm sur un champ de mesure de 95x95 mm et atteint ± 7,5 µm sur champ de mesure de 95x45 mm.
