L’américain Keysight Technologies, le leader mondial en solutions de test et mesure électroniques, vient d’intégrer à son microscope à force atomique (AFM) 9500, destiné aux ingénieurs de R&D industrielle et aux scientifiques, d’un ensemble de nouvelles fonctionnalités permettant d’atteindre une vitesse de balayage inégalée jusque-là de 2 s par trame de 256x256 pixels.

Parmi ces fonctionnalités, on trouve le contrôleur numérique basé sur FPGA et à haute bande passante, qui permet de s’affranchir de contrôleurs externes, la technologie optionnelle Quick Scan, qui est d’ailleurs contrôlée par le nouveau package logiciel d’imagerie et d’analyse NanoNavigator, ainsi que la fonction Auto Drive dont le rôle de configurer d’une manière automatique et optimisée tous les paramètres de l’AFM.

Le NanoNavigator assurera également une interface graphique basée sur flux de travail et efficiente aussi bien pour les experts que pour les novices (aide pas à pas, application pour smartphones et tablettes numériques…). Quant aux autres spécifications, le 9500 affiche une gamme de balayage de 90 µm en XY et supérieure à 12 µm en Z, avec une linéarité inférieure à 1 % en XY et un niveau de bruit inférieur à 0,05 nm en Z