Dans toute acquisition de données sur ordinateur ou système PCI ou VXI, il y a souvent plusieurs horloges d’échantillonnage, souvent indépendantes, des longueurs de câbles différentes entre signaux, etc. Cela peut poser des problèmes de synchronisation, surtout lorsque l’on travaille à des fréquences d’échantillonnage élevées. National Instruments décrit ici trois techniques différentes pour résoudre ces problèmes.
Présentation de trois techniques pour synchroniser les mesures effectuées sur un système de test
