Le britannique Oxford Instruments, fabricant de solutions d’analyse et de caractérisation pour les industries et les nanotechnologies, vient d’étendre sa gamme d’analyseurs de fluorescence par rayons X (XRF) portables avec le modèle X-MET8000. Il permet une identification fiable et continue des alliages, assurant aux utilisateurs une amélioration de toutes les étapes du processus de recyclage des métaux (tri rapide des déchets métaux mixtes et séparation des matériaux nobles de ceux sans valeur).

L’analyseur X-MET8000 répond également aux exigences de l’Identification positive des matériaux (IPM) dans le but d’obtenir une assurance qualité et une conformité en matière de sécurité dans les établissements industriels et les installations de fabrication. En plus de la plus grande bibliothèque du marché, selon le fabricant, le X-MET8000 s’appuie sur un détecteur de type SDD (Silicon Drift Detector) à grande surface et une géométrie optimisée ainsi que sur un tube de rayons X haute performance, d’où l'analyse des éléments légers (du magnésium au soufre) en quelques secondes seulement.