# 1 entrée et 1 sortie (fréquence d’échantillonnage de 100 kéch/s)
# Gammes en tension : ±600 mV à ±60 V (entrée et sortie)
# Gammes en courant : ±1 µa à ±10 A (entrée) ou ±3 A (sortie)
# Sensibilités minimale : 2 µV et 100 fA
# Capacité de mesures pulsées jusqu’à 500 W (10 A sous 50 V)
# Capture des caractéristiques des matériels en régime transitoire, sans oscilloscope externe
# Réduction du temps de test global et de l’encombrement pour les systèmes à grand nombre de voies (jusqu’à 17 voies SMU dans une baie 4U 19 pouces)
# Protection du matériel sous test contre les dépassements et les oscillations, même sur des charges capacitives ou inductives élevées
National Instruments France
